+7 (495) 646-87-66
info@avion-ndt.ru

ПРОДУКТЫ:

XM10IR

The XM10IR is a 1.4 megapixel monochrome camera with a spectral response from the visible up to 1000 nm and is ideal for thin through-silicon near IR imaging. The XM10IR also offers all of the properties required to provide dependable gray scale value and infra-red microscopy images.
   

Описание:

The XM10IR is a 1.4 megapixel monochrome camera with a spectral response from the visible up to 1000 nm and is ideal for thin through-silicon near IR imaging. The XM10IR also offers all of the properties required to provide dependable gray scale value and infra-red microscopy images.

The XM10IR uses a 1.376 x 1.032-pixel CCD chip cooled to 10°C (at 25°C ambient) with a 14 bit analog digital conversion. It offers three binning modes: 2x, 4x and 8x, resulting in increased sensitivity and frame rates of up to 80 fps in live mode. Its spectral response from the visible up to 1000nm is ideal for through-silicon near-IR imaging.

At full resolution, the XM10IR is ideal for all acquisitions since it is extremely sensitive, low in noise and supports long integration times of up to 160 seconds. The chip has a pixel size of 6.45 µm x 6.45 µm, which, in combination with the camera cooling, ensures the XM10IR is ideal for recording even the faintest signals in your specimen.

The XM10IR makes a great addition to any microscopy system not only because of its great features, but also since it is easy to integrate using a standard C-mount adapter to connect to the microscope and the high-speed data transfer and power capabilities of the FireWire・interface.

The XM10IR is fully supported by OLYMPUS Stream image analysis software, ensuring that whatever the application, the information is not only fully collected, but also properly analyzed, processed, displayed and archived.


Передовые решения неразрушающего контроля

Контроль сварных соединений Коррозионный мониторинг Технология направленных волн Aerospace Inspection Solutions Stress Corrosion Cracking Solutions Контроль композитных материалов Промышленные сканеры Экспресс-диагностика трубопроводов

Дефектоскопы

Портативные ультразвуковые дефектоскопы Вихретоковые дефектоскопы Оборудование с фазированными решётками BondTesting Матричные вихретоковые дефектоскопы Технология направленных волн Генераторы-приёмники Датчики и преобразователи

Интегрированные системные решения в области НК

Контрольно-измерительные системы
Системы диагностики прутков Системы диагностики трубопроводов

Толщиномеры

Преобразователи и комплектующие

Компоненты микроскопов

Modular Microscope Assemblies Optical Microscope Frames Optical Microscope Modules

Оптические измерительные системы

Лазерные конфокальные микроскопы Опто-цифровые микроскопы

Видеоскопы, бороскопы

Видеоскопы Промышленные фиброскопы Стандартные жёсткие бороскопы Программное обеспечение для генерации отчетов Источники света Системы прокрутки

Высокоскоростные видеокамеры

Анализаторы XRF и XRD

Настольные XRD/XRF анализаторы
Переносной XRF-анализатор Портативный XRF-анализатор DELTA Портативный дифрактометр (XRD) Промышленный XRF-анализатор Тестовый стенд XRF

Микроскопия

Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Инвертированные металлургические микроскопы Лазерные конфокальные микроскопы Модульные микроскопы Объективы Опто-цифровые микроскопы Поляризационные микроскопы Программное обеспечение для анализа изображений Прямые металлургические микроскопы Стерео микроскопы Цифровые камеры

Применение НК

Техподдержка