Настольные XRD/XRF анализаторы 
Рентгеновский дифрактометр BTX Profiler
Рентгеновский дифрактометр BTX Profiler позволяет выполнять комбинированный XRD/XRF анализ для определения фазового и элементного состава проб. Усовершенствованный анализатор дает более полную информацию о кристаллическом образце и сокращает операционные издержки и время.
Настольный дифрактометр BTX
The BTX Benchtop XRD System is a fast, low cost, small footprint, benchtop XRD for full phase ID of major, minor and trace components and quick XRF scan of elements Ca – U. Its unique, minimal sample prep technique and sample chamber allow for fast, benchtop analysis rivaling the performance of large costly lab units.
|
- Продукты
- Передовые решения неразрушающего контроля
- Дефектоскопы
- Интегрированные системные решения в области НК
- Толщиномеры
- Компоненты микроскопов
- Оптические измерительные системы
- Видеоскопы, бороскопы
- Высокоскоростные видеокамеры
- Анализаторы XRF и XRD
- Микроскопия
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection
- Инвертированные металлургические микроскопы
- Лазерные конфокальные микроскопы
- Модульные микроскопы
- Объективы
- Опто-цифровые микроскопы
- Поляризационные микроскопы
- Программное обеспечение для анализа изображений
- Прямые металлургические микроскопы
- Стерео микроскопы
- Цифровые камеры
- ПРИМЕНЕНИЕ
- Технологии
- Новости
- события
- Тех.поддержка
- Контакты