+7 (495) 646-87-66
info@avion-ndt.ru
ГлавнаяПродуктыАнализаторы XRF и XRDНастольные XRD/XRF анализаторы

ПРОДУКТЫ:

Настольный дифрактометр BTX

The BTX Benchtop XRD System is a fast, low cost, small footprint, benchtop XRD for full phase ID of major, minor and trace components and quick XRF scan of elements Ca – U. Its unique, minimal sample prep technique and sample chamber allow for fast, benchtop analysis rivaling the performance of large costly lab units.
     

Описание:



Настольный XRD/XRF анализатор BTX является первым инструментом комбинированного анализа, отличающимся простотой и удобством эксплуатации. Основанный на базе уже проверенного прибора Terra, переносной XRD/XRF анализатор BTX имеет те же технические характеристики, но внешне не похож на стандартный переносной анализатор. Используемая в анализаторе драгметаллов технология была оценена престижной премией R&D 100 Award и выбрана для проекта «Марсианской научной лаборатории» в 2011. Подробнее см. на официальном сайте NASA.

BTX – это компактный анализатор для комбинированного XRF/XRD анализа порошковых образцов. Теперь, XRD-анализ можно выполнить с помощью компактного и доступного по цене анализатора. С переносным анализатором BTX не только сократился процесс подготовки образцов, но значительно повысился уровень выполняемого анализа, не уступающего по качеству лабораторному.

Основные характеристики

  • Автономный измерительный приборНастольный дифрактометр BTX-II производства компании Olympus
  • Простая подготовка образцов для анализа
    • Сыпучий порошок (~20 мг образца)
    • Образец, просеянный через сито с размером ячеек <150 мкм
  • Простота эксплуатации, «однокнопочные» операции
  • 2D порошковый дифрактометр
    • Получение изображения дифракционных пиков (дифрактограммы)
    • Отображение влияния различных частиц или предпочтительной ориентации
  • Рентгеновский детектор, дискриминирование по энергии
    • Исключение флуоресценции, рассеяния и других фоновых шумов
    • Спектральные данные XRF для подтверждения образца

Анализ XRD наложенный на непрерывный спектр (Olympus)

ПЗС-камера прямого возбуждения BTX специальной конструкции не уступает по качеству лабораторному оборудованию XRF/XRD

Простая подготовка проб для анализа

Заполнение вибрационной кассеты порошковым образцомКювета и индикатор загрузки образца для XRD-анализаДержатели образцовИндикатор загрузки образца для XRD-анализа

Образец для XRD-анализа должен быть тонко измельчен и сжат в гранулу. Это необходимо для получения достаточно произвольной ориентации кристаллов в образце. Запатентованная вибрирующая во время измерения система загрузки BTX позволяет обходиться всего 15 мг порошка. Образец в вибрирующей камере BTX все время поворачивается и перемешивается, образуя структуру с различной ориентацией кристаллов. Таким образом, получается идеальная дифрактограмма, практически без негативных эффектов предпочтительной ориентации, что свойственно классическим методам подготовки образцов.

Настольный дифрактометр BTX — Программное обеспечение для поиска/соответствия и количественного XRD-анализа

Анализатор BTX оснащен ПО XPowder для обработки данных XRD-анализа. Программное обеспечение включает базу данных о полезных ископаемых AMSCD, а также предоставляет возможность использования файлов данных ICDD (International Centre for Diffraction Data — Международный центр дифракционных данных) в формате PDF.

Программное обеспечение XPowder XRD

Для осуществления количественного анализа ПО XPowder предлагает метод отношения стандартных интенсивностей (RIR), а также необходимые инструменты для анализа по отпечаткам спектра. Кроме того, данные дифрактограммы представлены в различных форматах файлов, что делает возможным их обработку в программах сторонних производителей.

BTX-II — XRD-анализ

Программное обеспечение BTX для XRF-анализа

Программное обеспечение BTX для XRF-анализа используется для обработки полученных данных образца с целью определения и маркировки присутствующих элементов, от кальция (Ca) до урана (U), в кэВ. Относительная интенсивность может использоваться для выполнения полуколичественного анализа.

BTX-II — XRF-анализ

Технические характеристики BTX

Угловое разрешение детектора дифрактометра0,25o 2Ø ПШПВ
Диапазон рабочих углов дифрактометра5–55o 2Ø

Выполнение анализа с помощью дифрактометра BTX-II

Тип и размер детектора1024 x 256 пикселей; Двумерный ПЗС-детектор, охлаждаемый элементом Пельтье
Энергетическое разрешение XRF200 эВ при 5,9 кэВ
Энергетический диапазон XRF3–25 кэВ
Крупность образца<150 мкм измельченного порошка (размер ячейки сита 100 меш; 150 мкм)
Объем пробы~ 15 мг
Материал анода рентгеновской трубкиCo или Cu (стандарт Co)
Напряжение рентгеновской трубки30 кВ
Питание рентгеновской трубки10 Вт
Хранение данныхВстроенный жесткий диск на 40 ГБ
Беспроводное подключение802,11 б/г для удаленного контроля с интернет-браузера
Диапазон рабочих температурОт –10oC до 35oC
Вес12,5 кг
Габариты30 x 17 x 47 см
ПитаниеОт сети переменного тока (без охлаждающей системы)

Анализатор BTX имеет встроенное программное обеспечение. Доступ к системе осуществляется через сеть Ethernet или беспроводное соединение (802.11b/g). Уникальный режим функционирования обеспечивает гибкость управления прибором и последовательной обработки данных.

BTX представляет собой компактный настольный анализатор для комбинированного XRD-XRF анализа. Простой в использовании и низкозатратный анализатор позволяет выполнять экспресс-анализ самых различных типов образцов – лекарственных препаратов, сельскохозяйственных культур, токсичных материалов, минералов, нефтехимических продуктов и т.д. Компактный настольный анализатор BTX используется для композиционного (количественного) анализа в режиме реального времени; обеспечивает высокую точность результатов и оптимальную скорость анализа.

Тестовый отсек и индикатор загрузки образца для XRD-анализаЛекарственные препараты

  • Экспресс-анализ контрафактных лекарственных препаратов
  • Неразрушающий экспресс-анализ наркотических средств и прекурсоров
  • Качественный и количественный анализ активных и пассивных, чужеродных или заменяемых компонентов
  • Быстрый XRD-анализ обеспечивает безопасность пациента, подтверждая и гарантируя легитимность марки производителя

 

Выполнение XRD-анализа на месте с помощью дифрактометра BTX-IIСельское хозяйство

  • Качественный экспресс-анализ кормов и удобрений на содержание в них металлов
  • Гарантия совместимости компонентов с имеющимся продуктом
  • Определение количества модифицированных (активных) ингредиентов и инертных компонентов
  • Подтверждение наличия гипса и извести
  • Сокращение финансовых санкций при условии, что результаты анализа производителя и нормативные тесты находятся в рамках данного исследования.

 

XRD-анализ на содержание опасных веществ с помощью настольного дифрактометра BTX-IIИдентификация опасных материалов

  • Быстрая идентификация опасных материалов для обеспечения всеобщей безопасности
  • Идентификация взрывчатых веществ, воспламеняющихся материалов и катализаторов
  • Идентификация и количественное определение опасных и подозрительных веществ: азиды: PETN (тетранитропентаэритрит); черный порох: KClO3, KClO4 и KNO3; порох для сигнальных вспышек: KClO3 и каскадит
  • Быстрая идентификация изоляционных материалов с содержанием асбеста

  •  

 

 

Индикатор загрузки образца для XRD-анализаГорнорудная промышленность

  • Железная руда – Экспресс-анализ ожелезненной руды с использованием стандартного соотношения интенсивностей ПО Xpowder для автоматического определения количественного состава образцов, даже если некоторые фазы полностью отсутствуют – кварц, гематит, гетит, магнетит и др.
  • Содержание кальцита в угле – Количественное определение кальцита (CaCO3). Кальцит снижает эффективность горючего материала в угольной электростанции и сокращает выбросы CO2.
  • Поташ – Анализ поташа с целью фазовой идентификации, и полуколичественный анализ обнаруженных минералов (сильвин, галит, лангбейнит и леонит). Для более подробного анализа минералов в наличии имеется ПО Sietronics Siroquant
  • Известняк и цемент – Количественный экспресс-анализ наиболее используемых минералов-известняков (альфа-кварц, асбестовые минералы, кальцит, доломит и др). При наличии в карьере различных уровней содержания доломита BTX быстро определяет данный минерал в диапазоне от 0,50 до 9,0% с погрешностью всего 0,02%.

 

Индикатор загрузки образца BTX-II для XRD-анализаНефтехимическая промышленность

  • Газовый каротаж – идентификация и количественное определение минералов в срезе глинистого сланца для оценки состояния скважины – упрощает прослеживание жилы определенного пласта.
  • Трубопроводы – Функция Smart Sense дифрактометра BTX позволяет детально отображать все пики во время коррозионного мониторинга трубопроводов. Возможность одновременного проведения XRF-анализа обеспечивает быструю идентификацию составляющих элементов.

Передовые решения неразрушающего контроля

Контроль сварных соединений Коррозионный мониторинг Технология направленных волн Aerospace Inspection Solutions Stress Corrosion Cracking Solutions Контроль композитных материалов Промышленные сканеры Экспресс-диагностика трубопроводов

Дефектоскопы

Портативные ультразвуковые дефектоскопы Вихретоковые дефектоскопы Оборудование с фазированными решётками BondTesting Матричные вихретоковые дефектоскопы Технология направленных волн Генераторы-приёмники Датчики и преобразователи

Интегрированные системные решения в области НК

Контрольно-измерительные системы 		Системы диагностики прутков Системы диагностики трубопроводов

Толщиномеры

Преобразователи и комплектующие

Компоненты микроскопов

Modular Microscope Assemblies Optical Microscope Frames Optical Microscope Modules

Оптические измерительные системы

Лазерные конфокальные микроскопы Опто-цифровые микроскопы

Видеоскопы, бороскопы

Видеоскопы Промышленные фиброскопы Стандартные жёсткие бороскопы Программное обеспечение для генерации отчетов Источники света Системы прокрутки

Высокоскоростные видеокамеры

Анализаторы XRF и XRD

Настольные XRD/XRF анализаторы 		Переносной XRF-анализатор Портативный XRF-анализатор DELTA Портативный дифрактометр (XRD) Промышленный XRF-анализатор Тестовый стенд XRF

Микроскопия

Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Инвертированные металлургические микроскопы Лазерные конфокальные микроскопы Модульные микроскопы Объективы Опто-цифровые микроскопы Поляризационные микроскопы Программное обеспечение для анализа изображений Прямые металлургические микроскопы Стерео микроскопы Цифровые камеры

Применение НК

Техподдержка