+7 (495) 646-87-66
info@avion-ndt.ru

ПРОДУКТЫ:

MPLFLN

The MPLFLN objective lens has well balanced performance with a semi apochromat color correction, a fair working distance and a high numerical aperture and is suitable for the widest range of applications.
   

Описание:

M Plan SemiApochromat - MPLFLN

  • Objective lenses dedicated to brightfield
  • Plan semi-apochromat objective lenses corrected for chromatic aberration at a high level
  • A line-up of objective lenses from 1.25x through 100x with working distance of 1mm or more
  • Unified pupil position from 5x though 100x to eliminate the need for switching DIC prism when changing objective lenses *1

*1: 1.25x and 2.5x lenses require the use an analyzer and polarizer.

M Plan SemiApochromat MPLFLN


Передовые решения неразрушающего контроля

Контроль сварных соединений Коррозионный мониторинг Технология направленных волн Aerospace Inspection Solutions Stress Corrosion Cracking Solutions Контроль композитных материалов Промышленные сканеры Экспресс-диагностика трубопроводов

Дефектоскопы

Портативные ультразвуковые дефектоскопы Вихретоковые дефектоскопы Оборудование с фазированными решётками BondTesting Матричные вихретоковые дефектоскопы Технология направленных волн Генераторы-приёмники Датчики и преобразователи

Интегрированные системные решения в области НК

Контрольно-измерительные системы
Системы диагностики прутков Системы диагностики трубопроводов

Толщиномеры

Преобразователи и комплектующие

Компоненты микроскопов

Modular Microscope Assemblies Optical Microscope Frames Optical Microscope Modules

Оптические измерительные системы

Лазерные конфокальные микроскопы Опто-цифровые микроскопы

Видеоскопы, бороскопы

Видеоскопы Промышленные фиброскопы Стандартные жёсткие бороскопы Программное обеспечение для генерации отчетов Источники света Системы прокрутки

Высокоскоростные видеокамеры

Анализаторы XRF и XRD

Настольные XRD/XRF анализаторы
Переносной XRF-анализатор Портативный XRF-анализатор DELTA Портативный дифрактометр (XRD) Промышленный XRF-анализатор Тестовый стенд XRF

Микроскопия

Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Инвертированные металлургические микроскопы Лазерные конфокальные микроскопы Модульные микроскопы Объективы Опто-цифровые микроскопы Поляризационные микроскопы Программное обеспечение для анализа изображений Прямые металлургические микроскопы Стерео микроскопы Цифровые камеры

Применение НК

Техподдержка