Semiconductor & Flat Panel Display Inspection 
MX-IR / BX-IR
These IR Imaging Systems contain dedicated IR objective lenses and components that are corrected for chromatic aberrations and designed for 700-1300nm wavelengths.
MX51
The Olympus MX51 industrial inspection microscope is cost-effective and optimized for the inspection requirements of a variety of electronic components, wafers and large samples.
MX61L/ MX61
The MX61L/ MX61, 300 mm/ 200 mm semiconductor inspection microscope provides exceptional image resolution and clarity through observation methods such as brightfield, darkfield, differential interference contrast (DIC), fluorescence and infrared.
MX61A
The MX61A is a specially designed semiconductor microscope that allows operators to work in an ergonomically correct position and benefit from smoother operation throughout extended inspection periods, maximizing productivity and integration.
|
- Продукты
- Передовые решения неразрушающего контроля
- Дефектоскопы
- Интегрированные системные решения в области НК
- Толщиномеры
- Компоненты микроскопов
- Оптические измерительные системы
- Видеоскопы, бороскопы
- Высокоскоростные видеокамеры
- Анализаторы XRF и XRD
- Микроскопия
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection
- Инвертированные металлургические микроскопы
- Лазерные конфокальные микроскопы
- Модульные микроскопы
- Объективы
- Опто-цифровые микроскопы
- Поляризационные микроскопы
- Программное обеспечение для анализа изображений
- Прямые металлургические микроскопы
- Стерео микроскопы
- Цифровые камеры
- ПРИМЕНЕНИЕ
- Технологии
- Новости
- события
- Тех.поддержка
- Контакты