Главная Продукты Интегрированные системные решения в области НК Системы диагностики прутков

ПРОДУКТЫ:

Система контроля прутков BIS PA

The BIS PA uses phased array technology to inspect the full volume of round and square bars. The system is based on a unique “Floating Head” concept for a constant optimal positioning of probes; independently of the straightness variations of the bars.

Описание:

Designed for:

Round, square, and flat bars
Carbon steel and stainless steel grades
Rough surfaces and peeled surfaces
Round diameter range: 12mm (0.5 in.) to 230 mm (9 in.)
Square size range: 20 mm (0.75 in.) to 230 mm (9 in.)
Flat size range: 4 mm x 30 mm to 100 mm x 250 mm (0.25 in. x 1.50 in. to 4 in. x 10 in.)
References:
- Flat-bottom hole (FBH)
- Side-drilled hole (SDH)
- Surface notch

System Key Features

The main characteristics of the Olympus bar inspection system are:

High Productivity

High-speed inspections (up to 2 m/s depending on diameter size)
Phased Array ultrasound technique has the highest productivity and reliability of all inspection systems on the market.
Versatile system quickly reconfigurable to different inspection configurations such as:
- Fully automatic size change
- Fast mechanical changeover time
- Quick access to predefined inspection setups
- Software Wizard tool used to create new inspection setups
Multiple parallel firing to inspect simultaneously at different positions on the bars

Quality

Full-body inspections of the bars by combining:
- Ultrasonic longitudinal wave (LW) and shear wave (SW) for volumetric inspections
- Eddy current array (ECA) technology for surface inspections
Use of the unique Olympus mechanic for a constant optimal positioning of probes; independent and not affected adversely by straightness variations of the bars:
- Floating head concept for UT/PA probes
- Wear shoes concept for ECA probes
The centering of the UT/PA probes in each cassette is acoustically adjusted to optimize the detection for each probe.
Automatic calibration per channel providing the highest documented repeatability in the industry with detailed data reporting
UT/PA probes remain static for a high quality signal.
Bending can be accepted at the ends of the bars without any damage to the mechanics.
Mechanical system design allows very short untested bar ends (± 20 mm).
High sensitivity on small reference defects with SNR greater than 12 dB

User Friendly

Easy interpretation of the inspection results using real time strip-chart displays
Easy and fast mechanical reconfiguration between two bar sizes
Detailed alarms and data reporting
Supervisor software used to:
- Merge and archive inspection data in one common database
- Centralize inspection results and real-time displays on a single work station
DCOM exchange protocol for easy interface with customer level 2 production-line systems
Easy maintenance
Multilingual acquisition software

Передовые решения неразрушающего контроля

Контроль сварных соединений Коррозионный мониторинг Технология направленных волн Aerospace Inspection Solutions Stress Corrosion Cracking Solutions Контроль композитных материалов Промышленные сканеры Экспресс-диагностика трубопроводов

Дефектоскопы

Портативные ультразвуковые дефектоскопы Вихретоковые дефектоскопы Оборудование с фазированными решётками BondTesting Матричные вихретоковые дефектоскопы Технология направленных волн Генераторы-приёмники Датчики и преобразователи

Интегрированные системные решения в области НК

Контрольно-измерительные системы

Системы диагностики прутков Системы диагностики трубопроводов

Толщиномеры

Преобразователи и комплектующие

Компоненты микроскопов

Modular Microscope Assemblies Optical Microscope Frames Optical Microscope Modules

Оптические измерительные системы

Лазерные конфокальные микроскопы Опто-цифровые микроскопы

Видеоскопы, бороскопы

Видеоскопы Промышленные фиброскопы Стандартные жёсткие бороскопы Программное обеспечение для генерации отчетов Источники света Системы прокрутки

Высокоскоростные видеокамеры

Анализаторы XRF и XRD

Настольные XRD/XRF анализаторы

Переносной XRF-анализатор Портативный XRF-анализатор DELTA Портативный дифрактометр (XRD) Промышленный XRF-анализатор Тестовый стенд XRF

Микроскопия

Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Инвертированные металлургические микроскопы Лазерные конфокальные микроскопы Модульные микроскопы Объективы Опто-цифровые микроскопы Поляризационные микроскопы Программное обеспечение для анализа изображений Прямые металлургические микроскопы Стерео микроскопы Цифровые камеры