Главная Продукты Анализаторы XRF и XRD Переносной XRF-анализатор

ПРОДУКТЫ:

XRF-анализатор X-5000

Описание:

Анализатор X-5000
Возможность лабораторного EDXRF анализа в полевых условиях

Анализатор X-5000™ производства компании Olympus специально спроектирован для безопасного и качественного дисперсноэнергетического рентгенофлуоресцентного анализа (EDXRF). Анализатор представляет собой переносную мини-лабораторию с надежно защищенным тестовым отсеком и универсальным программным обеспечением, содержащим широкий набор заводских и пользовательских калибровок. X-5000 характеризуется безопасностью и высокой производительностью традиционного настольного EDXRF анализатора, а также отличается экономичностью и прочностью проверенного на практике портативного оборудования XRF.

Переносной интегрированный EDXRF-анализатор для высокоскоростного анализа на производственных линиях, зонах контроля или технического обслуживания, в полевых условиях.
Батарейное питание, портативность, эргономичный дизайн делают прибор идеальным для выполнения анализа в полевых условиях.
Полностью интегрированный ПК с сенсорным экраном для удобства использования.
Большой закрытый тестовый отсек позволяет размещать самые различные образцы: стандартные кюветы с пробами для XRF-анализа, колбы с жидкими образцами, пакетированные образцы.
Переносной, полностью экранированный рабочий терминал с «закрытым лучом» предоставляет пользователю возможность безопасного XRF-анализа.

Преимущества анализатора X-5000
Высокая производительность

Анализатор X-5000 отличается высоким уровнем производительности, не свойственным портативным системам.

Рентгеновская трубка 50 кэВ/10 Вт обеспечивает оптимальный предел обнаружения (LOD) от магния (Mg) до урана (U).
Доступны различные виды анодов:
- Анод изтантала (Ta) используется для достижения максимальной чувствительности при измерении более 25 тяжелых металлов (таких как Cd, Ba, Ag, Au, Pb, Sn, Sb), в дополнение к многочисленным редкоземельным элементам (включая La, Ce, Pr, Nd, Sm)
- Анод из родия (Rh) используется для анализа легких элементов (таких как Mg и Al) и переходных металлов
- Анод из серебра (Ag) используется в нефтяной промышленности для улучшения предела обнаружения легких элементов
Усовершенствованный кремниевый дрейфовый детектор (SDD) большей площади гарантирует высокое качество измерений широкого спектра элементов.
Шестипозиционные клапаны для фильтров первичного луча обеспечивают оптимальную работу со всей периодической системой.
Высококачественный контроль легких элементов без вакуумирования и продувки сжатым гелем.

Встроенный ПК гарантирует работу X-5000 в любых условиях.

Широкий экран с виртуальной клавиатурой.
Цветной сенсорный экран.
Интуитивно понятный пользовательский интерфейс обеспечивает:
- Наложение спектров
- Быструю идентификацию пиков
Доступны следующие прикладные алгоритмы: фундаментальные параметры, нормализация по Комптону, эмпирическая калибровка и согласование по спектру.

Портативность

Анализатор X-5000 весом всего 11,5 кг удобен для переноски и выполнения анализа практически в любых условиях. Полностью экранированный тестовый отсек с «закрытым лучом» делает Х-5000 надежным и безопасным инструментом анализа.

Возьмите анализатор с собой
Выполнение анализа в любых условиях: на производственном участке, пункте технического осмотра, поточных конвейерных линиях, на лабораторном столе. Продолжительность работы литий-ионной батареи (приобретается отдельно): 3 часа.

Начните анализ
Откройте крышку анализатора и поместите исследуемый материал на измерительное окно. Закройте крышку и начните анализ. Защитная блокировка прибора образует систему с закрытым источником.

Получите результат
Тест проводится в считанные секунды, а полученные результаты тут же отображаются на сенсорном экране прибора. Данные анализа автоматически сохраняются в защищенном от несанкционированных изменений формате. Распечатайте отчет о проведенном контроле (MTR) или сертификат соответствия RoHS (CoC), подключив принтер к анализатору через USB-порт.

Гибкая конфигурация

Готовые заводские калибровки позволяют анализировать самые разнообразные образцы. В приложениях, где требуются отраслевые образцы или образцы, не имеющиеся в наличии, анализатор X-5000 позволяет настроить калибровки на основе пользовательских стандартов для анализа взаимосвязи показателей.

Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Инвертированные металлургические микроскопы Лазерные конфокальные микроскопы Модульные микроскопы Объективы Опто-цифровые микроскопы Поляризационные микроскопы Программное обеспечение для анализа изображений Прямые металлургические микроскопы Стерео микроскопы Цифровые камеры

ПРОДУКТЫ:

XRF-анализатор X-5000

Описание:

Анализатор X-5000
Возможность лабораторного EDXRF анализа в полевых условиях

Преимущества анализатора X-5000
Высокая производительность

Портативность

Гибкая конфигурация

Передовые решения неразрушающего контроля

Дефектоскопы

Интегрированные системные решения в области НК

Толщиномеры

Компоненты микроскопов

Оптические измерительные системы

Видеоскопы, бороскопы

Высокоскоростные видеокамеры

Анализаторы XRF и XRD

Микроскопия

Применение НК

Техподдержка

ПРОДУКТЫ:

XRF-анализатор X-5000

Описание:

Анализатор X-5000 Возможность лабораторного EDXRF анализа в полевых условиях

Преимущества анализатора X-5000 Высокая производительность

Портативность

Гибкая конфигурация

Анализатор X-5000
Возможность лабораторного EDXRF анализа в полевых условиях

Преимущества анализатора X-5000
Высокая производительность