QuickScan EC
The QuickScan EC is designed to inspect ferrous and nonferrous materials using multicoil ECA probes. The capabilities and flexibility of this system make it suitable for many applications, such as surface inspections or measurement of material properties. This system is managed by Quickview advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.
Описание:The QuickScan EC is designed to inspect ferrous and nonferrous materials using multicoil ECA probes. The capabilities and flexibility of this system make it suitable for many applications, such as surface inspections or measurement of material properties. This system is managed by Quickview advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.
|
- Продукты
- Передовые решения неразрушающего контроля
- Дефектоскопы
- Интегрированные системные решения в области НК
- Толщиномеры
- Компоненты микроскопов
- Оптические измерительные системы
- Видеоскопы, бороскопы
- Высокоскоростные видеокамеры
- Анализаторы XRF и XRD
- Микроскопия
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection
- Инвертированные металлургические микроскопы
- Лазерные конфокальные микроскопы
- Модульные микроскопы
- Объективы
- Опто-цифровые микроскопы
- Поляризационные микроскопы
- Программное обеспечение для анализа изображений
- Прямые металлургические микроскопы
- Стерео микроскопы
- Цифровые камеры
- ПРИМЕНЕНИЕ
- Технологии
- Новости
- события
- Тех.поддержка
- Контакты