Системы диагностики прутков 
Система контроля прутков BIS ECA
The BIS can combine phased array (PA) and eddy current array (ECA) technologies to inspect the full volume and the full surface of round and square bars. The system is based on a unique "Floating Head" concept (PA) and on a "Wear Shoes" concept (ECA) for a constant optimal positioning of probes; independently of the straightness variations of the bars.
Система контроля вращающихся биллетов
In order to inspect round, large-diameter billets, Olympus has developed high-speed inspection systems,which reach the highest quality standard without any compromise to productivity.
Система FOX-IQ для XRF-анализа технологического потока
XRF-анализатор Fox-IQ обеспечивает поточный автоматизированный непрерывный контроль (от Ca до U). Fox-IQ предназначен для круглосуточной эксплуатации в жестких промышленных условиях; увеличивает производительность и улучшает качество продукции.
Система контроля прутков BIS PA
The BIS PA uses phased array technology to inspect the full volume of round and square bars. The system is based on a unique “Floating Head” concept for a constant optimal positioning of probes; independently of the straightness variations of the bars.
|
- Продукты
- Передовые решения неразрушающего контроля
- Дефектоскопы
- Интегрированные системные решения в области НК
- Толщиномеры
- Компоненты микроскопов
- Оптические измерительные системы
- Видеоскопы, бороскопы
- Высокоскоростные видеокамеры
- Анализаторы XRF и XRD
- Микроскопия
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection
- Инвертированные металлургические микроскопы
- Лазерные конфокальные микроскопы
- Модульные микроскопы
- Объективы
- Опто-цифровые микроскопы
- Поляризационные микроскопы
- Программное обеспечение для анализа изображений
- Прямые металлургические микроскопы
- Стерео микроскопы
- Цифровые камеры
- ПРИМЕНЕНИЕ
- Технологии
- Новости
- события
- Тех.поддержка
- Контакты