+7 (495) 646-87-66
info@avion-ndt.ru
ГлавнаяПродуктыАнализаторы XRF и XRDНастольные XRD/XRF анализаторы

ПРОДУКТЫ:

Рентгеновский дифрактометр BTX Profiler

Рентгеновский дифрактометр BTX Profiler позволяет выполнять комбинированный XRD/XRF анализ для определения фазового и элементного состава проб. Усовершенствованный анализатор дает более полную информацию о кристаллическом образце и сокращает операционные издержки и время.
     

Описание:



Рентгеновский дифрактометр BTX Profiler для экспресс-анализа химического и фазового состава материалов

360 ViewBTX Profiler позволяет выполнять комбинированный XRD/XRF анализ для определения фазового и элементного состава проб. Усовершенствованный анализатор дает более полную информацию о кристаллическом образце и сокращает операционные издержки и время.

BTX Profiler

Комбинированный XRD/XRF анализатор для определения химического состава материалов

  • Анализ минералогического состава, 2-D-XRD
  • Элементный анализ, ED-XRF
  • Полная интеграция данных
  • Компактность, экономичность, производительность

Метод работы BTX Profiler основан на революционной тех- нологии дифракционного анализа, разработанной NASA для марсохода «Curiosity», который входит в Программу научной лаборатории по исследованию Марса. Кроме того, BTX Profiler использует передовые технологии, используемые в аналитических XRD/XRF приборах Olympus.

марсоход

BTX Profiler – это качественный рывок в области комбинированного XRD/XRF анализа. BTX Profiler производит неразрушающий анализ фазового и элементного состава проб. Комбинация методов XRD и XRF в одном приборе позволяет получить более полную информацию о кристаллическом образце, и сокращает операционные издержки и время.

BTX Profiler

BTX Profiler сочетает в себе два метода анализа (2-D XRD и ED-XRF), что позволяет определять элементный состав проб и одновременно получать информацию о минералогии материала. Этот высокоэффективный прибор неразрушающего контроля особенно необходим в таких областях, как энергетика, геохимия, фармацевтическая и пищевая промышленности, криминалистика и образование.

  • Поиск энергоносителей
  • Разработка новых месторождений полезных ископаемых
  • Геолого-технологические исследования
  • Минералогический анализ
  • Контроль качества руды
  • Обогащение руды
  • Контроль качества лекарственных средств
  • Формирование библиотеки спектров лекарственных средств
  • Исследование компонентов катализаторов
  • Криминалистика
  • Коррозионный мониторинг
  • Наука и образование

Фармацевтическая промышленность

  • Экспресс-анализ контрафактных лекарственных препаратов
  • Быстрый, неразрушающий метод идентификации наркотических средств & прекурсоров
  • Качественный и количественный анализ активных и пассивных, чужеродных или заменяемых компонентов
  • Быстрый XRD-анализ обеспечивает безопасность пациента, подтверждая и гарантируя легитимность марки производителя

Сельское хозяйство

  • Качественный экспресс-анализ кормов и удобрений на содержание в них металлов
  • Гарантия совместимости компонентов с имеющимся продуктом
  • Определение количества модифицированных (активных) ингридиентов и инертных компонентов
  • Подтверждение наличия гипса и извести
  • Сокращение финансовых санкций при условии, что результаты анализа производителя и нормативные тесты находятся в рамках данного исследования.

Идентификация опасных материалов

  • Быстрая идентификация опасных материалов для обеспечения всеобщей безопасности
  • Идентификация взрывчатых веществ, воспламеняющихся материалов и катализаторов
  • Идентификация и количественное определение опасных и подозрительных веществ: азиды: PETN (тетранитропентаэритрит); черный порох: KClO3, KClO4 и KNO3; порох для сигнальных вспышек: KClO3 и каскадит
  • Быстрая идентификация изоляционных материалов с содержанием асбеста

Горнорудная промышленность

  • Железная руда – Экспресс-анализ ожелезненной руды с использованием стандартного соотношения интенсивностей ПО Xpowder для автоматического определения количественного состава образцов, даже если некоторые фазы полностью отсутствуют – кварц, гематит, гетит, магнетит и др.
  • Содержание кальцита в угле – Количественное определение кальцита (CaCO3). Кальцит снижает эффективность горючего материала в угольной электростанции и сокращает выбросы CO2.
  • Поташ – Анализ поташа с целью фазовой идентификации и полуколичественный анализ обнаруженных минералов, таких как сильвин, галит, лангбейнит и леонит. Для более подробного анализа минералов в наличии имеется ПО Sietronics Siroquant
  • Известняк и цемент – Количественный экспресс-анализ распространенных минералов-известняков – альфа-кварц, асбестовые минералы, кальцит, доломит и др. При наличии в карьере различных уровней содержания доломита BTX быстро определяет данный минерал в диапазоне от 0,50 до 9,0% с погрешностью всего 0,02%.

Нефтехимическая промышленность

  • Газовый каротаж – идентификация и количественное определение минералов в срезе глинистого сланца для оценки состояния скважины – упрощает прослеживание жилы определенного пласта.
  • Трубопроводы – Функция Smart Sense дифрактометра BTX позволяет детально отображать все пики во время коррозионного мониторинга трубопроводов. Возможность одновременного проведения XRF-анализа обеспечивает быструю идентификацию составляющих элементов.

Конфигурации настольного дифрактометра BTX

Настольный дифрактометр BTX производства Olympus доступен в трех конфигурациях. BTX Profiler, предназначенный для минералогического (XRD) и элементного анализа (XRF), используется: 1) для измерения одиночных проб и 2) для анализа нескольких проб с помощью системы автоматической пробоподачи. BTX-II также, как и BTX Profiler, оснащен всеми функциями минералогического (XRD) анализа, но использует только элементарные данные рентгеновской флуоресценции (качественный анализ), полученные с помощью ПЗС-детектора. В приборе BTX-II спектры XRF служат для облегчения ми-нералогической идентификации и анализа, тогда как BTX Profiler выполняет полный энергодисперсионный элементный XRF анализ (количественный).

Технические характеристики BTX Profiler

BTX Profiler для анализа одиночных пробBTX Profiler для анализа нескольких проб
Технические характеристики XRD
Диапазон рабочих углов дифрактометра5-55 градусов 2θ5-55 градусов 2θ
Угловое разрешение детектора дифрактометра0,25 град. 2θ0,25 град. 2θ
Тип и размер детектора XRDДвумерный ПЗС-детектор, охлаждаемый элементом Пельтье; 1024 × 256 пикс.Двумерный ПЗС-детектор, охлаждаемый элементом Пельтье; 1024 × 256 пикс.
Крупность образца< 150 мкм измельченного порошка (размер ячейки сита: 100)< 150 мкм измельченного порошка (размер ячейки сита: 100)
Другие виды пробГели, смазочные материалыГели, смазочные материалы
Объем пробы~ 34 mg~ 34 mg
Материал анода рентгеновской трубкиМедь (кобальт)Медь (кобальт)
Напряжение рентгеновской трубки30 кВ30 кВ
Макс. сила тока рентгеновской трубки330 μA330 μA
Технические характеристики XRF
Детектор XRFКремниевый дрейфовый, большей площадиКремниевый дрейфовый, большей площади
Материал анода рентгеновской трубкиRhRh
Тип рентгеновской трубкиТорцевая геометрияТорцевая геометрия
Напряжение рентгеновской трубки40 кВ40 кВ
Макс. сила тока рентгеновской трубки200 μА200 μА
Анализ легких элементовПродувка гелием ~ 0,25 л/минПродувка гелием ~ 0,25 л/мин
Фильтр первичного излученияАвтоматическая программируемая 7-позиционная система фильтровАвтоматическая программируемая 7-позиционная система фильтров
Объем пробы~245 мг~245 мг
Диапазон рабочих температурот –10°C до 35°Cот –10°C до 35°C
Вес23,13 кг / модуль для анализа одиночных образцов32,66 кг / модуль с автоматическим пробозабором до 20 проб
Габариты49,3 × 39,7 × 34,4 см / модуль для одиночных образцов 
67,4 × 39,7 × 34,4 см / модуль с автоматическим пробозабором до 20 проб

Технические характеристики BTX

Угловое разрешение детектора дифрактометра0,25o 2Ø ПШПВ
Диапазон рабочих углов дифрактометра5–55o 2Ø
Тип и размер детектораДвумерный ПЗС-детектор, охлаждаемый элементом Пельтье; 1024 × 256 пикс.
Энергетическое разрешение XRF200 эВ при 5,9 кэВ
Энергетический диапазон XRF3–25 кэВ
Крупность образца<150 мкм измельченного порошка (сито 100 меш; 150 мкм)
Объем пробы~ 15 мг
Материал анода рентгеновской трубкиCo или Cu (стандарт Co)
Напряжение рентгеновской трубки30 кВ
Питание рентгеновской трубки10 Вт
Хранение данныхВстроенный жесткий диск на 40 ГБ
Беспроводное подключение802,11 б/г для удаленного контроля с интернет-браузера
Диапазон рабочих температурот -10oC до 35oC
Вес12,5 кг

Передовые решения неразрушающего контроля

Контроль сварных соединений Коррозионный мониторинг Технология направленных волн Aerospace Inspection Solutions Stress Corrosion Cracking Solutions Контроль композитных материалов Промышленные сканеры Экспресс-диагностика трубопроводов

Дефектоскопы

Портативные ультразвуковые дефектоскопы Вихретоковые дефектоскопы Оборудование с фазированными решётками BondTesting Матричные вихретоковые дефектоскопы Технология направленных волн Генераторы-приёмники Датчики и преобразователи

Интегрированные системные решения в области НК

Контрольно-измерительные системы 		Системы диагностики прутков Системы диагностики трубопроводов

Толщиномеры

Преобразователи и комплектующие

Компоненты микроскопов

Modular Microscope Assemblies Optical Microscope Frames Optical Microscope Modules

Оптические измерительные системы

Лазерные конфокальные микроскопы Опто-цифровые микроскопы

Видеоскопы, бороскопы

Видеоскопы Промышленные фиброскопы Стандартные жёсткие бороскопы Программное обеспечение для генерации отчетов Источники света Системы прокрутки

Высокоскоростные видеокамеры

Анализаторы XRF и XRD

Настольные XRD/XRF анализаторы 		Переносной XRF-анализатор Портативный XRF-анализатор DELTA Портативный дифрактометр (XRD) Промышленный XRF-анализатор Тестовый стенд XRF

Микроскопия

Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Инвертированные металлургические микроскопы Лазерные конфокальные микроскопы Модульные микроскопы Объективы Опто-цифровые микроскопы Поляризационные микроскопы Программное обеспечение для анализа изображений Прямые металлургические микроскопы Стерео микроскопы Цифровые камеры

Применение НК

Техподдержка